ICS 31.200 L 56 中华人民共和国国家标准 GB/T 4377—2018 代替GB/T4377—1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of voltage regulators 2018-08-01实施 2018-03-15发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 4377—2018 目 次 前言 1 范围 2 术语和定义 3 总则 3.1 测试环境要求 3.2 测试注意事项 3.3 测试仪器和设备 参数测试 4.1 电压调整率(Sv) 4.2 电流调整率(S.) 4.3 电源纹波抑制比(Srip 4.4 输出电压温度系数(S) 4.5 输出电压长期稳定性(S.) 4.6 输出噪声电压(V 4.7 耗散电流(Ip)和耗散电流变化(△I) 4.8 短路电流(Ios) 4.9 输出阻抗(Zo) 12 4.10 基准电压(VREF) 4.11 启动时间(ts) L4 4.12 最小输入输出电压差(VDROP) 4.13 输入电压变化瞬态响应时间(ti)和输人电压变化瞬态过冲电压[VoM(VI)] 16 负载电流变化瞬态响应时间(t2)和负载电流变化瞬态过冲电压[VoM(1o)] 4.14 4.15 输出电流限制(ILimit) 18 4.16 热关断温度(TsHDN)和滞回温度(△TSHD 19 4.17 输出电压(Vo)和输出电压偏差(△Vo 4.18 热调整率(Sh GB/T 4377—2018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草 本标准代替GB/T4377—1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》,与GB/T4377- 1996相比,主要技术变化如下: 修改了电源纹波抑制比Srip、输出噪声电压VNo、耗散电流Ip和耗散电流变化△Ip、热调整率 Sh4项参数测试方法; 删除了原标准中“不适用于双端(输入)口器件”一句; 一删除了原标准中“启动电压范围VoR”一项,改由“启动时间ts"来代替; 增加了启动时间ts、输出电流限制ILimit、热关断温度TsHDv和滞回温度△TsHDv及输出电压Vo 和输出电压偏差△Vo4项参数的测试方法 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。 本标准起草单位:圣邦微电子(北京)股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研 究所、成都振芯科技股份有限公司、北京宇翔电子有限公司。 本标准主要起草人:王鸿儒、袁莹莹、邹臣、朱华、张宝华、张冰、陈志培、罗彬 1 GB/T 4377—2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法 1范围 本标准规定了电压调整器(以下称为器件)参数测试方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试。 术语和定义 2 下列术语和定义适用于本文件。 2.1 电压调整率 yoltageregulation 输出电压随输入电压变化而发生的变化率,通常通过改变直流输入电压并测量相应的输出电压变 化来确定电压调整率。 2.2 电流调整率 current regulation 输出电压随输出电流变化而发生的变化率,通常通过改变直流输出电流并测量相应的直流输出电 压变化来确定电流调整率。 2.3 电源纹波抑制比 powersupplyrejectionratio 输人电源变化量与输出电压变化量的比值。 2.4 输出电压温度系数 outputvoltagetemperature coefficient 输出电压随环境温度变化而发生的变化率,通常通过改变环境温度和记录相应的输出电压变化来 确定输出电压的温度系数。 2.5 输出电压长期稳定性 output voltage stability 输出电压随时间的变化率,通过测试输出电压值随时间的变化来确定。 2.6 输出噪声电压 output voltage noise 器件本身在输出电压上产生的噪声,通常在规定的直流输人电压下,测量器件内部电路对输出电压 的干扰。 2.7 耗散电流和耗散电流变化dissipativecurrentanddissipationcurrentchanges 在输人电压和输出电流为规定值时的地端电流值,在输人和输出条件变化时,确定耗散电流变化, 在输出电流为“0”时测得的耗散电流又被称为静态电流(I)。 2.8 短路电流 E short-circuit current 器件输出端短路时的输出电流,通常在规定的输入电压下,测量短路电流。 1 GB/T4377—2018 2.9 输出阻抗outputimpedance 在器件输出端测得的交流阻抗,通常通过测量给定频率下的交流电压与交流电流来确定输出阻抗。 2.10 基准电压referencevoltage 在基准端处,测量器件在规定输入电压及输出条件下的电压。本测试项仅适用于具有基准端口的 器件。 2.11 启动时间turnontime 电源或使能信号的上升沿到输出电压接近其标称值的90%时的时间。有使能端的器件按使能启 动时间,没有使能端的器件按电源启动时间。 2.12 最小输入输出电压差dropoutvoltage 保持电压稳定所需的输人电压和输出电压之间的最小差值,通常通过改变直流输入电压和记录相 应的输出电压来确定最小输人输出电压差。 2.13 输入电压变化瞬态响应时间inputvoltagetransientresponsetime 测量对于输人电压阶跃变化的输出电压值与输出电压稳定在该变化的规定百分数内所需要的 时间。 2.14 输入电压变化瞬态过冲电压inputvoltagechangestransientovershootvoltage 测量对于输入电压阶跃变化的输出电压变化值与终值稳定输出电压之差。 2.15 负载电流变化瞬态响应时间loadcurrenttransientresponsetime 测量对于负载电流阶跃变化的输出电压偏差变化值与输出电压稳定在该变化的规定百分数内所需 的时间。 2.16 负载电流变化瞬态过冲电压loadcurrenttransientovershootvoltage 测量对于负载电流阶跃变化的输出电压偏差变化值与最终稳态输出电压之差。 2.17 输出电流限制outputcurrentlimit 输出电压下降到规定值时的负载电流。 2.18 热关断温度和滞回温度thermalshutdownandhysteresis 测量器件由于温度升高而导致关断时的温度。 2.19 输出电压和输出电压偏差outputvoltage 通过额定输入电压和负载电流条件下,测量输出电压为Vo,并与额定输出电压的差值为△Vo。 2.20 热调整率thermalregulation 输出电压随功率变化而发生的变化率,通常在规定时间测量被测器件由于所施加功率引起输出电 压的变化来确定热调整率。 2 GB/T4377-—2018 3总则 3.1 测试环境要求 除另有规定外,电测试环境条件如下: 环境温度:15℃~35℃; 一环境气压:86kPa~106kPa。 如果环境湿度对试验有影响,应在相关文件中规定。 3.2 测试注意事项 测试期间,应遵循以下事项: a)环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合相关文件的规定 b) 施于被测器件的电源电压应在规定值的士1%以内,施于被测器件的其他电参量的准确度应符 合相关文件的规定。 c) 在所有测试期间,应没有寄生振荡 d) 应避免不希望有的瞬态输入电压和电流。 e) 如果测试结果受热效应影响,则测试应在短时间内完成。例如,在采用脉冲法的情况下,应规 定脉冲条件 f) 被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件 g) 测试期间,被测器件应连接详细规范所规定的附加网络。详细规范是指针对该被测器件的测 试规范、产品说明书等相关文件所规定的更为详细的测试规范, 3.3 3测试仪器和设备 测试所使用的仪器和设备应满足下列要求: a) 测试仪器应经计量校准并在检定有效期内,准确度应满足测试要求; b) 测试仪器的频率范围和量程应满足测试要求; 测试时按测试原理图连接测试仪器后,应按仪器要求预热; d) 测试时仪器、设备应良好接地,并做好相关静电护防。 4参数测试 4.1电压调整率(Sv) 4.1.1目的 测试器件输出电压对输人电压变化的抑制能力。 4.1.2 测试原理图 Sv的测试原理图及波形图如图1和图2所示。 3 GB/T4377—2018 被测器件 输入 载 电压 图1 电压调整率的测试原理图 AD 输入电压 选通 输山电压 图2电压调整率的测试波形图 4.1.3测试条件 相关文件应规定下列条件: 环境或参考点温度; b) 输人电压及其变化量; c) 输出电压; (P ti,t2,ts的选取; e) 负载的选取; f) 其他外部网络(适用时)。 4.1.4测试程序 测试程序如下: a) 将被测器件接入测试系统中; b) 在被测器件输人端加上规定的直流输人电压Vi; 测试输出电压,并确认达到规定值Vo; c) d) 在规定的输入电压Vi下,t²时测试输出电压Voi;;

pdf文档 GB-T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法

文档预览
中文文档 26 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 0 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共26页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
GB-T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法 第 1 页 GB-T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法 第 2 页 GB-T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 思安 于 2023-01-25 06:01:24上传分享
友情链接
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们微信(点击查看客服),我们将及时删除相关资源。