(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221346067.7 (22)申请日 2022.05.31 (73)专利权人 中国地质科 学院地质研究所 地址 100037 北京市西城区百万庄大街26 号 (72)发明人 张聪　刘晓瑜　娄玉行　崔莹　 张忠炜　秦雪晴　赵晓轩　 (74)专利代理 机构 北京天方智力知识产权代理 事务所(普通 合伙) 11719 专利代理师 白凯园 (51)Int.Cl. G01N 21/65(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种用于地质样品拉曼光谱测试及实时校 正的样品台 (57)摘要 本实用新型公开一种用于地质样品拉曼光 谱测试及实时校正的样品台， 包括： 台体； 第一托 架， 为设置在台体上的凹槽， 中部设有第一通光 孔， 用于放置环氧树脂靶； 第二托架， 为 设置在台 体上且与第一托架间隔设置的凹槽， 中部设有第 二通光孔， 用于放置岩石薄片； 第三托架， 为 设置 在台体上的凹槽， 设有多个且环绕第一托架， 设 有固定部， 通过固定在固定部的固定件固定标样 靶。 本实用新型方案中， 方便对岩石薄片及矿物 环氧树脂靶放置、 在半定量、 定量拉曼测试过程 中对标样及待测样同时测试、 及在测试过程中对 微米级样品的数字化定位。 权利要求书1页 说明书4页 附图2页 CN 218098884 U 2022.12.20 CN 218098884 U 1.一种用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 其特 征在于， 包括： 台体； 第一托架， 所述第一托架为设置在所述台体上的凹槽， 所述第一托架 的中部设有第一 通光孔， 所述第一 托架用于放置环氧树脂靶； 第二托架， 所述第二托架为设置在所述台体上且与所述第一托架间隔设置的凹槽， 所 述第二托架的中部设有第二 通光孔， 所述第二 托架用于放置岩石薄片； 第三托架， 所述第三托架为设置在所述台体上的凹槽， 所述第三托架设有多个且环绕 所述第一 托架， 所述第三 托架中设有固定 部， 通过固定在所述固定 部的固定件固定标样靶。 2.根据权利要求1所述的用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 其特征在 于， 所述第一 托架为圆柱形凹槽， 所述第一 通光孔为圆柱形孔。 3.根据权利要求2所述的用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 其特征在 于， 所述第一 托架的横截面 直径为所述第一 通光孔的横截面 直径的1.2 ‑1.5倍。 4.根据权利要求1所述的用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 其特征在 于， 所述第二 托架为长方体形凹槽， 所述第二 通光孔为长方体形孔。 5.根据权利要求1所述的用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 其特征在 于， 所述样品台还包括位于所述第二托架侧部的紧固件， 所述紧固件固定用于夹紧岩石薄 片的固定 夹。 6.根据权利要求1所述的用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 其特征在 于， 所述固定件与所述标样靶固定连接 。 7.根据权利要求1 ‑6中任一项所述的用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品 台， 其特征在于， 所述台体上还设有对位标， 所述台体通过所述对位标实现在测试过程中的 位置对位。 8.根据权利要求7所述的用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 其特征在 于， 所述对位标设有一个且位于所述台体的边角位置 。 9.根据权利要求8所述的用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 其特征在 于， 所述对位标由垂直交叉的直线构成。 10.根据权利要求1 ‑6中任一项所述的用于地质 样品拉曼光谱测试及实时校正的样品 台， 其特征在于， 所述样品台还 包括设置在所述台体上且用于对所述台体调平的调平件。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218098884 U 2一种用于地质样品 拉曼光谱测试 及实时校正的样品台 技术领域 [0001]本实用新型涉及岩石学鉴定设备技术领域， 尤其涉及一种用于地质样品拉曼光谱 测试及实时校正的样品台。 背景技术 [0002]拉曼光谱分析是一种基于光和材料的相互作用产生拉曼光散射的无损分析技术。 激光光源的高强度入射光被分子散射时， 产生极小部分的散射光波长与入射光波长不同， 即为拉曼散射。 入射光波长的改变由样品的化学结构所决定， 所以拉曼散射谱图可提供各 种固态、 液态、 气态样品的化学结构、 相和形态、 结晶度及分子相互作用的详细信息。 显微激 光拉曼光谱仪通过测试物质的拉曼散射产生的峰位变化， 实现对样品的原位 鉴别。 [0003]目前， 显微激光拉曼光谱在地球科学研究及矿物鉴定中得到了广泛的应用。 其可 对不同地质样品进行无损原 位结构识别； 在不同温度压力情况下矿物的微小 结构变化进 行 分辨； 对矿物切片及 矿物单晶进 行体相捕捉， 类型识别 及矿物晶体结晶取向识别； 从亚微米 尺度对地质样品的矿物结构， 物质演化规律及成岩成矿作用进行限定， 为基础地质科学研 究及关键矿产普查 提供技术支撑。 [0004]地质样品的拉曼光谱鉴定过程通常是将岩石磨成薄片并粘在载玻片上， 或者将岩 石中的微小矿物挑出并粘贴制作成环氧树脂靶上进行观察和测试。 在进 行定量及半定量拉 曼光谱测试过程中需要不同标准样品对实验数据进行标定， 但现有的显微激光拉曼光谱仪 的样品台为平面状， 不便放置岩石薄片及矿物环氧树脂靶。 在实际测试过程中需要垫玻璃 片及不停更换样品和标样， 导致更换样品过程中微米级样品位置发生较大变化， 在显微镜 下不容易找到样品； 在更换标样和被测样品时， 实验条件可能改变， 导致产生较大误差， 甚 至实验失败。 实用新型内容 [0005]本实用新型公开一种用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 用于解决 现有技术中， 在显微镜下不容易找到样品及在更换标样和被测样品时， 实验条件 可能改变， 导致产生较大误差， 甚至实验失败的问题。 [0006]为了解决上述问题， 本实用新型采用下述 技术方案： [0007]提供一种用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台， 包括： [0008]台体； [0009]第一托架， 所述第一托架为设置在所述台体上的凹槽， 所述第一托架的中部设有 第一通光孔， 所述第一 托架用于放置环氧树脂靶； [0010]第二托架， 所述第二托架为设置在所述台体上且与所述第一托架间隔设置的凹 槽， 所述第二 托架的中部设有第二 通光孔， 所述第二 托架用于放置岩石薄片； [0011]第三托架， 所述第三托架为设置在所述台体上的凹槽， 所述第三托架设有多个且 环绕所述第一托架， 所述第三托架中设有固定部， 通过固定在所述固定部的固定件固定标说　明　书 1/4 页 3 CN 218098884 U 3