(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211330613.2 (22)申请日 2022.10.28 (71)申请人 飞腾信息技 术有限公司 地址 300450 天津市滨 海新区海 洋高新技 术开发区信安创业广场5号楼 (72)发明人 刘晓燕　高军　袁媛　郭俊　 淮泽远　 (74)专利代理 机构 北京布瑞知识产权代理有限 公司 11505 专利代理师 张欣 (51)Int.Cl. G06F 30/331(2020.01) G06F 11/36(2006.01) G06F 115/02(2020.01) (54)发明名称 仿真方法及装置、 计算设备、 计算机可读存 储介质 (57)摘要 本申请提供了一种仿真方法及 装置、 计算设 备、 计算机可读存储介质， 该方法用于对芯片进 行仿真， 以对芯片 的功能进行验证， 芯片包括按 照流水线作业的多个模块。 该方法包括： 运行第 一测试激励， 以对芯片进行第一层级仿真； 响应 于第一层 级仿真出现仿真错误， 根据第一测试激 励生成多个模块的多个第二测试激励； 运行多个 第二测试激励， 以确定多个模块中的出现仿真错 误的目标模块； 对目标模块进行分析， 以对第一 层级仿真和/或第二层级仿真进行错误定位。 本 申请实施例在芯片仿真出现错误时， 对芯片中按 照流水线作业的多个模块分别进行仿真以模拟 芯片仿真出错场景。 分别执行多个模块级的仿真 能够快速定位出现错误的模块， 从而有助于提高 定位问题的效率。 权利要求书2页 说明书8页 附图3页 CN 115422865 A 2022.12.02 CN 115422865 A 1.一种仿真方法， 其特征在于， 所述方法用于对芯片进行仿真， 以对所述芯片的功能进 行验证， 所述芯片包括按照流水线作业的多个模块， 所述方法包括： 运行第一测试激励， 以对所述芯片进行第一层级仿真， 其中所述第一层级仿真的待测 设计包含多个第二层级仿真的待测设计， 所述多个第二层级仿 真的待测设计与所述多个模 块一一对应； 响应于所述第 一层级仿真出现仿真错误， 根据所述第 一测试激励生成所述多个模块的 多个第二测试激励， 所述多个第二测试激励用于对所述多个模块进行所述第二层级仿真， 以模拟所述第一层级仿 真， 其中所述第二层级仿真相对所述第一层级仿真在所述芯片的仿 真层级中的层级较低； 运行所述多个第二测试激励， 以确定所述多个模块中的出现仿真错 误的目标模块； 对所述目标模块进行分析， 以对所述第一层级仿真和/或所述第二层级仿真进行错误 定位。 2.根据权利要求1所述的仿真方法， 其特征在于， 所述根据 所述第一测试激励生成多个 模块的多个第二测试激励， 包括： 获取所述第一测试激励的测试跟踪信息； 从所述测试跟踪信息中获取 所述多个模块各自对应的信息； 根据所述多个模块各自对应的信息， 生成所述多个第二测试激励。 3.根据权利要求2所述的仿真方法， 其特征在于， 所述测试跟踪信 息包括以下信 息中的 一种或多种： 指令状态信息， 寄存器 状态信息， 以及存 储状态信息 。 4.根据权利要求3所述的仿真方法， 其特 征在于： 所述指令状态信 息包括以下中的一种或多种： 指令的程序计数器值， 指令编码， 指令助 记符中的一种或多种； 和/或 所述寄存器状态信息包括以下中的一种或多种： 通用寄存器信息和系统寄存器信息； 和/或 所述存储状态信息包括以下中的一种或多种： 访存信息、 页表信息以及存储过程记录 的异常信息 。 5.根据权利要求1所述的仿真方法， 其特 征在于： 所述第一层级仿真为所述芯片的系统级仿真， 所述第 二层级仿真为子系统级仿真或模 块级仿真； 或者， 所述第一层级仿真为所述芯片的子系统级仿真， 所述第二层级仿真为模块级仿真。 6.一种仿真装置， 其特征在于， 所述仿真装置用于对芯片进行仿真， 以对所述芯片的功 能进行验证， 所述芯片包括按照流水线作业的多个模块， 所述仿真装置包括： 第一运行模块， 被配置为运行第 一测试激励， 以对所述芯片进行第一层级仿真， 其中所 述第一层级仿 真的待测设计包含多个第二层级仿真的待测设计， 所述多个第二层级仿 真的 待测设计与所述多个模块 一一对应； 生成模块， 被配置为响应于所述第一层级仿真出现仿真错误， 根据所述第一测试激励 生成所述多个模块的多个第二测试激励， 所述多个第二测试激励用于对所述多个模块进 行权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115422865 A 2所述第二层级仿真， 以模拟所述第一层级仿真， 其中所述第二层级仿真相对所述第一层级 仿真在所述芯片的仿真层级中的层级较低； 第二运行模块， 被配置为运行所述多个第二测试激励， 以确定所述多个模块中的出现 仿真错误的目标模块； 分析模块， 被配置为对所述目标模块进行分析， 以对所述第 一层级仿真和/或所述第二 层级仿真进行错 误定位。 7.根据权利要求6所述的仿真装置， 其特 征在于， 所述 生成模块进一 步被配置为： 获取所述第一测试激励的测试跟踪信息； 从所述测试跟踪信息中获取 所述多个模块各自对应的信息； 根据所述多个模块各自对应的信息， 生成所述多个第二测试激励。 8.根据权利要求7所述的仿真装置， 其特征在于， 所述测试跟踪信 息包括以下信 息中的 一种或多种： 指令状态信息， 寄存器 状态信息， 以及存 储状态信息 。 9.根据权利要求8所述的仿真装置， 其特 征在于： 所述指令状态信 息包括以下中的一种或多种： 指令的程序计数器值， 指令编码， 指令助 记符中的一种或多种； 和/或 所述寄存器状态信息包括以下中的一种或多种： 通用寄存器信息和系统寄存器信息； 和/或 所述存储状态信息包括以下中的一种或多种： 访存信息、 页表信息以及存储过程记录 的异常信息 。 10.根据权利要求6所述的仿真装置， 其特 征在于： 所述第一层级仿真为所述芯片的系统级仿真， 所述第 二层级仿真为子系统级仿真或模 块级仿真； 或者， 所述第一层级仿真为所述芯片的子系统级仿真， 所述第二层级仿真为模块级仿真。 11.一种计算设备， 其特 征在于， 包括： 存储器， 用于存 储代码； 处理器， 用于执行所述存储器 中存储的代码， 以执行如权利要求1 ‑5中任一项所述的方 法。 12.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 其上存储有用于执行如权利要求1 ‑5中任 一项所述的方法的代码。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115422865 A 3