(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210716322.0 (22)申请日 2022.06.22 (71)申请人 浙江晶科能源 有限公司 地址 314416 浙江省嘉兴 市海宁市袁花 镇 袁溪路58号 申请人 晶科能源股份有限公司 (72)发明人 陈波　陶武松　李婷婷　戚培东　 (74)专利代理 机构 上海晨皓知识产权代理事务 所(普通合伙) 3126 0 专利代理师 成丽杰 (51)Int.Cl. B23K 37/00(2006.01) G01N 21/01(2006.01) G01N 21/88(2006.01) (54)发明名称 串焊机用上料扫码检测装置、 串焊机及上料 扫码检测方法 (57)摘要 本申请实施例涉及光伏领域， 提供一种串焊 机用上料扫码检测装置、 串焊机及上料扫码检测 方法， 串焊机用上料扫码检测装置包括： 上料部， 所述上料部包括旋转升降轴以及旋转结构， 所述 旋转结构固定于所述旋转升降轴上， 所述旋转升 降轴带动所述旋转结构升降以及旋转； 所述旋转 结构包括至少一个镂空部以及暴露出所述镂空 部的抓取结构； 扫码结构， 所述扫码结构获取经 基片表面反射并穿过所述镂空部的光线。 本申请 实施例所提供的串焊机用上料扫码检测装置、 串 焊机及上料扫码检测方法至少可以提高解码效 率的同时降低破片风险。 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 CN 115255722 A 2022.11.01 CN 115255722 A 1.一种串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 包括： 上料部， 所述上料部包括旋转 升降轴以及旋转结构， 所述旋转结构 固定于所述旋转升降轴 上， 所述旋转升降轴 带动所述 旋转结构 升降以及旋转； 所述旋转结构包括至少一个镂空部以及暴露出所述镂空部的抓取 结构； 扫码结构， 所述扫码结构获取 经基片表面反射并穿过 所述镂空部的光线。 2.根据权利要求1所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述旋转结构包括 相对的第一表面和第二表面， 所述抓取结构位于所述旋转结构的第一表面， 所述扫码结构 位于所述旋转结构的第二表面。 3.根据权利要求2所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 还包括光源结构， 所述光源结构固定于所述旋转结构的第二表面或者所述镂空部内， 所述光源结构用于生成 所述光线。 4.根据权利要求3所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述光源结构的轴 线与所述镂空部的轴线重合。 5.根据权利要求1所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述扫码结构包括 获取组件， 所述获取组件在所述旋转结构表面的正投影位于所述镂空部内。 6.根据权利要求5所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述获取组件的轴 线与所述镂空部的轴线重合。 7.根据权利要求1所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述抓取结构至少 部分位于所述镂空部的外侧。 8.根据权利要求1或7所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述抓取结构 为吸附结构， 所述吸附结构包括至少2个吸盘； 2个所述吸盘中心对称。 9.根据权利要求1所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述旋转结构的轴 线与所述旋转升降轴的轴线重叠； 所述旋转结构的表面具有至少 两个所述抓取结构， 所述 抓取结构的数量与所述镂空部的数量相等。 10.根据权利要求9所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述镂空部的数 量与所述扫码结构的数量相等。 11.根据权利要求1所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 还包括支架以及 解码结构， 所述支架与所述旋转结构可拆卸连接， 所述支架与所述扫码结构可拆卸连接， 所 述解码结构与所述扫码结构电连接 。 12.根据权利要求11所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述旋转结构表 面具有至少一个限位孔， 所述支架远离所述扫码结构的一端固定于所述限位孔内； 或者， 所 述旋转结构表面具有滑槽， 所述支 架远离所述扫码结构的一端固定 于所述滑槽内。 13.根据权利要求11所述的串焊机用上料扫码检测装置， 其特征在于， 所述支架与 所述 扫码结构的连接方式包括螺纹连接或者 卡扣连接 。 14.一种串焊机， 其特征在于， 包括： 机架、 传输装置、 上料扫码检测装置、 CCD拍照检测 装置、 焊接装置， 所述传输装置安装在所述机架上， 所述传输装置包括第一传输组件以及第 二传输组件， 所述上料扫码检测装置包括如权利要求1～13任一项所述的上料扫码检测装 置； 所述上料扫码检测装置用于转移第一传输组件的基片 至第二传输组件以及 对所述基片 扫码， 所述C CD拍照检测装置检测所述基片， 所述焊接装置用于焊接多个所述基片。 15.根据权利要求14所述的串焊机， 其特征在于， 所述基片包括太阳能电池片、 硅片或权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115255722 A 2者光伏组件。 16.一种上 料扫码检测方法， 其特 征在于， 包括： 提供基片， 所述基片位于第一传输组件上； 旋转升降轴带动旋转结构下降至所述基片的上 方； 上料部的抓取 结构抓取 所述基片， 扫码结构对所述基片进行拍照， 获取照片特 征信息； 解码结构基于所述照片特 征信息判断所述基片是否合格； 若合格， 所述旋转升降轴带动所述旋转结构旋转至第二传输组件。 17.根据权利要求16所述的上料扫码检测方法， 其特征在于， 所述抓取结构为吸附结 构， 所述扫码结构对所述基片进行拍照之前还包括： 所述吸 附结构真空吸 附所述基片的负 压达到第一预设值； 所述旋转升降轴 带动所述旋转结构旋转至第二传输组件之后还包括： 所述吸附结构真空吸附所述基片的负压达到第二预设值， 所述第一预设值小于所述第二预 设值。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115255722 A 3