(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210774217.2 (22)申请日 2022.07.01 (71)申请人 嘉兴市华盛达时装股份有限公司 地址 314033 浙江省嘉兴 市永兴街64 号第 三层 (72)发明人 顾菊兰　任林飞　曾茜　顾纯洁　 (74)专利代理 机构 嘉兴嘉科嘉创专利代理事务 所(普通合伙) 33348 专利代理师 陆钢 (51)Int.Cl. G01N 21/94(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 一种面料附着物检测工艺 (57)摘要 本发明涉及面料检测工艺的技术领域,更具 体地说， 它涉及一种面料附着物检测工艺， 包括 如下步骤： 将成型面料截取部分送至暗仓内悬 挂； 在暗仓内的光束对面料照射补光； 对悬挂的 面料进行拍打实现扬尘处理， 扬尘时飘在暗仓内 物质被光束照射产生反光区域； 光学成像设备对 反光区域进行连续拍照成像， 得到图像数据并送 至计算部分分析， 得到检测结果， 本发明对面料 表面附着物进行精准检测， 提高面料品质。 权利要求书1页 说明书2页 附图1页 CN 114994070 A 2022.09.02 CN 114994070 A 1.一种面料附着物检测工艺， 其特 征在于： 包括如下步骤： S1、 将成型面料截取部分送至暗仓内悬挂； S2、 在暗仓内的光束对面料照射补光； S3、 对悬挂的面料进行拍打实现扬尘处理， 扬尘时飘在暗仓内物质被光束照射产生反 光区域； S4、 光学成像设备对反光区域进行连续拍照成像， 得到图像数据并送至计算部分分析， 得到检测结果。 2.根据权利要求1所述一种面料附着物检测工艺， 其特征在于： 步骤S2中在暗仓内的光 束来自于光照装置， 光照装置包括和射灯和用于安装射灯的支 架， 支架在暗内可位移。 3.根据权利要求2所述 一种面料附着物检测工艺， 其特 征在于： 步骤S3包括：  S31、 通过拍打机对面料的任意 一面进行拍打的同时， 对面料进行间歇性吹风， S32、 支架带着射灯围绕面料周圈位移的同时， 光学成像设备对各个位置的发光区域拍 照。 4.根据权利要求3所述一种面料附着物检测工艺， 其特征在于： 所述对面料间歇性吹风 为每间隔45秒吹风2秒钟。 5.根据权利要求2所述一种面料附着物检测工艺， 其特征在于： 所述计算部分将拍照成 像的具有光斑图片进行计算检测， 检测得 出面料的附作物的数量。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114994070 A 2一种面料附着物检测工艺 技术领域 [0001]本发明涉及面料检测工艺的技术领域,更具体地说， 它涉及一种面料附着物检测 工艺。 背景技术 [0002]面料在生产过程中其表面会附着灰尘、 线头和其他纤维织物， 该写附着物通过肉 眼是无法准确分辨的。 [0003]目前的面料在生产加工当中没有对面料表面附着物含量的检测工艺。 发明内容 [0004]针对现有技术存在的不足， 本发明的目的在于提供一种抽样式对面料表面附着物 进行精准检测， 提高面料品质的面料附着物检测工艺。 [0005]为实现上述目的， 本发明提供了如下技 术方案： 一种面料附着物检测工艺， 包括如下步骤： S1、 将成型面料截取部分送至暗仓内悬挂； S2、 在暗仓内的光束对面料照射补光； S3、 对悬挂的面料进行拍打实现扬尘处理， 扬尘时飘在暗仓内物质被光束照射产 生反光区域； S4、 光学成像设备对反光区域进行连续拍照成像， 得到图像数据并送至计算部分 分析， 得到检测结果。 [0006]本发明进一步设置为： 步骤S2中在暗仓内的光束来自于光照装置， 光照装置包括 和射灯和用于安装射灯的支 架， 支架在暗内可位移。 [0007]本发明进一 步设置为： 步骤S3包括：  S31、 通过拍打机对面料的任意 一面进行拍打的同时， 对面料进行间歇性吹风， S32、 支架 带着射灯围绕面料周圈位移的同时， 光学成像设备对各个位置的发光区 域拍照。 [0008]本发明进一 步设置为： 所述对面料间歇性吹风 为每间隔45秒吹风2秒钟。 [0009]本发明进一步设置为： 所述计算部分将拍照成像 的具有光斑图片进行计算检测， 检测得出面料的附作物的数量。 [0010]对比现有技 术的不足， 本发明的有益效果 为： 弥补了行业的空白。 通过对面料拍打， 将其表面的附作物飘出， 利用光照和摄像机 对反光的附着物拍摄， 再利用计算机计算飘出附作物的数量， 得 出一批次面料 是否超标。 附图说明 [0011]图1为本发明的工艺 流程图。说　明　书 1/2 页 3 CN 114994070 A 3