GB-T 43040-2023 半导体集成电路 AC-DC变换器测试方法

ICS 31.200 CCS L 55 中华人民共和国国家标准 GB/T43040—2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 Semiconductor integrated circuitsTest method of AC/DC converters 2024-04-01实施 2023-09-07发布国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T43040—2023 目次前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义般测试要求 4.1 测试环境要求 4.2 测试注意事项 4.3 测试仪器和设备测试条件和测试程序 5 5.1 输人电压范围（VIN_R） 5.2 输人频率范围（fiNR） 5.3 空负载输人电流（IIN_NULL） 5.4 满负载输入电流（IIN_FULL） 5.5 关断态输入电流（IIN_SD） 5.6 输出电压精度（α） 5.7 输出电压温度系数（αTc 5.8 输出纹波电压（V。RIPPLE） 5.9 电压调整率（Sv) 12 5.10 电流调整率(S.) 13 5.11 交叉调整率（Sc） 14 5.12 输出电压调整范围（VoR_TRIM） 15 5.13 效率(n 17 5.14 漏电流（ICASE） 18 5.15 输人浪涌电流（IINRUSH） 5.16 输出限制电流（IOPRO） 20 5.17 启动输出过冲电压（Vor） 21 5.18 负载变化瞬态过冲电压（VLOR） 22 5.19 负载变化瞬态响应时间（tROR） 23 5.20 隔离阻抗(Riso) 25 5.21 开关频率（fc） 26 5.22 启动延迟时间（tTR） 27 5.23 输出保持时间（th） 28 5.24 使能开启电压（VoN 29 1

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