(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告 号
(45)授权公告日
(21)申请 号 202221503919.9
(22)申请日 2022.06.15
(73)专利权人 安徽积芯微电子科技有限公司
地址 233000 安徽省蚌埠市中国 (安徽) 自
由贸易试验区蚌埠片区禹会区H2路电
子信息产业园7号楼
(72)发明人 许玉颖 徐尚恒 陈跃跃 刘文龙
吕娟娟 张少华
(74)专利代理 机构 合肥正则元起专利代理事务
所(普通合伙) 3416 0
专利代理师 刘勇
(51)Int.Cl.
G01L 5/00(2006.01)
G01N 3/02(2006.01)
G01N 3/08(2006.01)
(54)实用新型名称
一种推晶测试辅助定位机构
(57)摘要
本实用新型公开了一种推晶测试辅助定位
机构, 包括推刀基座、 推刀以及推刀固定柱,推刀
固定柱设置在推刀基座与推刀之间, 将推刀基
座、 推刀以及推刀固定柱连为一体, 还包括固定
件, 固定件与推刀固定柱外周连接; 连接板, 连接
板不少于一个, 连接板一端与固定件外周连接;
指示杆, 指示杆的数量与连接板相等, 指示杆一
端与连接板连接, 且指示杆另一端底 面与推刀的
底面处于同一水平面; 操作者可通过观察与推刀
的底面处于同一水平面的指示杆底部端面, 来确
定推刀刀尖的位置, 保证推刀在合适的定位高
度, 确保推刀能够与待推晶部位有效的接 触。
权利要求书1页 说明书4页 附图6页
CN 217586125 U
2022.10.14
CN 217586125 U
1.一种推晶测试辅助定位机构, 包括推刀基座(1)、 推刀(3)以及推刀固定柱(2),所述
推刀固定柱(2)设置在所述推刀基座(1)与所述推刀(3)之间, 其特征在于: 所述推晶测试辅
助定位机构还 包括:
固定件, 所述固定件与所述推刀固定柱(2)外周侧连接;
连接板(6), 所述连接 板(6)不少于一个, 所述连接 板(6)一端与固定件外周侧连接;
指示杆(4), 所述指示杆(4)与所述连接板(6)数量相等, 所述指示杆(4)一端与所述连
接板(6)连接, 且所述指示杆(4)另一端底面与所述推刀(3)的刀尖底面处于同一水平面。
2.根据权利要求1所述的一种推晶测试辅助定位机构, 其特 征在于: 所述固定件 包括:
卡环(5), 所述卡环(5)上开设有缺口(52), 所述缺口(52)大小不得超过卡环(5)整体的
四分之一, 所述卡环(5)具有弹性, 所述卡环(5)可通过所述缺口(52)紧固卡合在所述推刀
固定柱(2)外周侧。
3.根据权利要求2所述的一种推晶测试辅助定位机构, 其特征在于: 所述卡环(5)内侧
粘接柔性垫(51), 所述柔性垫(51)能使所述卡环(5)更紧密的卡合在所述推刀固定柱(2)外
周侧。
4.根据权利要求1所述的一种推晶测试辅助定位机构, 其特 征在于: 所述固定件 包括:
螺纹段(7), 所述螺纹段(7)固定设置在所述推刀固定柱(2)外周侧;
螺纹管(8), 所述螺纹管(8)内螺纹与所述螺纹段(7)螺纹相匹配, 所述螺纹管(8)与所
述螺纹段(7)套接, 所述螺纹管(8)可在所述螺纹段(7)上转动。
5.根据权利要求4所述的一种推晶测试辅助定位机构, 其特征在于: 所述固定件还包
括:
套环(9), 所述套环(9)套设在 所述螺纹管(8)上, 所述套环(9)可在 所述螺纹管(8)上转
动, 所述连接板(6)固定连接在所述套环(9)的外侧, 所述套环(9)转动可带动所述连接板
(6)转动, 所述套环(9)由金属材 料制成;
电磁铁(11), 所述电磁铁(11)形状与所述套环(9)形状相同, 所述电磁铁(11)设置在 所
述螺纹管(8)内, 所述电磁铁(1 1)上壁与所述套环(9)下壁 直接贴合。
6.根据权利要求1 ‑5任一项所述的一种推晶测试辅助定位机构, 其特征在于: 所述固定
件还包括:
电动马达(12), 所述电动马达(12)安装在 所述连接板(6)远离所述推刀固定柱(2)的一
端, 所述电动马达(12)位于所述连接 板(6)底部;
螺纹杆(13), 所述螺纹杆(13)连接在所述电动马达(12)的输出端, 所述螺纹杆(13)位
于所述电动马达(12)与所述推刀固定柱(2)之间且与所述连接板(6)上下平行; 所述指示杆
(4)靠近所述电动马达(12)的一端开设有与所述螺纹杆(13)相匹配的螺纹孔, 所述指示杆
(4)顶壁与所述连接 板(6)底壁接触, 所述指示杆(4)可在所述螺纹杆(13)上滑动。
7.根据权利要求6所述的一种推晶测试辅助定位机构, 其特征在于: 所述指示杆(4)顶
端设置有滑块(41), 所述连接板(6)底部开设滑槽(61), 所述滑块(41)安装在所述滑槽(61)
内, 所述指示杆(4)滑动可 带动所述滑块(41)在所述滑槽(61)内滑动。权 利 要 求 书 1/1 页
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2一种推晶测试辅助定位机构
技术领域
[0001]本实用新型 涉及推晶测试仪器领域, 特别涉及一种推晶测试辅助定位机构。
背景技术
[0002]推晶测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动
态测试仪器, 是微电子和电子制 造领域的重要设备仪器。 其原理是通过推刀对被测样品施
加推力, 再 由样品本身反馈的作用力通过仪器上 的传感器导出, 最后得出被测试样品能承
受的推力是否符合测试要求。
[0003]如图7‑8, 现有的推晶测 试仪主要包括推刀基座、 推刀固定柱和推刀, 现有的推 晶
测试仪在使用过程中, 为了确保良好的检测效果, 其一般是推刀基座移动, 带动推刀固定柱
和推刀移动, 推刀朝向操作者方向移动, 并向待推晶的部位(如芯片、 键合线等)施加推力,
而为了确保良好的推动效果, 需要保证推刀在合适的定位高度, 这样, 在推刀移动的过程
中, 才能确保推刀能够与待推晶部位有效的接触。
[0004]但是, 在实际中有时推刀刀尖的尺寸小于待推 晶部位(芯片)的尺寸时, 芯片会遮
挡住推刀 刀尖部位, 使得操作者的视线受阻, 难以确定合 适的定位高度。
[0005]因此, 发明一种推晶测试辅助定位机构来 解决上述问题很有必要。
实用新型内容
[0006]本实用新型的目的在于提供一种推晶测试辅助定位机构, 解决在实际中推刀刀尖
的尺寸小于待推晶部位的尺寸时, 芯片会遮挡 住推刀刀尖部位, 使得操作者的视线受阻, 难
以确定合 适的定位高度的问题。
[0007]为实现上述目的, 本 实用新型提供如下技术方案: 一种推晶测试辅助定位机构, 包
括推刀基座、 推刀以及推刀固定柱,所述推刀固定柱设置在所述推刀基座与所述推刀之 间,
将推刀基座、 推刀以及推刀固定柱连为 一体, 所述推晶测试辅助定位机构还 包括:
[0008]固定件, 所述固定件与所述推刀固定柱外周连接;
[0009]连接板, 所述连接 板不少于一个, 所述连接 板一端与固定件外周连接;
[0010]指示杆, 所述指示杆的数量与所述连接板相等, 所述指示杆一端与所述连接板连
接, 且所述指示杆另一端底面与所述推刀的底面处于同一水平面。
[0011]作为本实用新型优选的方案: 所述固定件 包括:
[0012]卡环, 所述卡环上开设有缺口, 所述缺口大小不得超过卡环整体的四分之一, 所述
卡环具有弹性, 所述 卡环可通过 所述缺口紧固卡合在所述推刀固定柱外周。
[0013]作为本实用新型优选 的方案: 所述卡环内侧粘接柔性垫, 所述柔性垫能使所述卡
环更紧密的卡 合在所述推刀固定柱外周。
[0014]作为本实用新型优选的方案: 所述固定件 包括:
[0015]螺纹段, 所述螺纹段固定套设在所述推刀固定柱外侧;
[0016]螺纹管, 所述螺纹管内螺纹与所述螺纹段螺纹相匹配, 所述螺纹管与所述螺纹段说 明 书 1/4 页
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专利 一种推晶测试辅助定位机构
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